.png)
產(chǎn)品詳情
簡(jiǎn)單介紹：
TL260-1電纜故障測(cè)試儀使用ARM技術(shù)和FPGA技術(shù)不用等待漫長(zhǎng)的搜索過(guò)程，一鍵測(cè)試就出結(jié)果，直觀明了！TL260-1電纜故障測(cè)試儀采用上等（真32位）ARM單片微機(jī)配合現(xiàn)場(chǎng)可編程門(mén)陣列技術(shù)，有利于儀器快速進(jìn)行各種復(fù)雜運(yùn)算、準(zhǔn)確測(cè)試故障距離。
詳情介紹：
TL260-1電纜故障測(cè)試儀
產(chǎn)品介紹：
新一代測(cè)試儀、突破性的升級(jí) ，一鍵測(cè)試，直接顯示距離
使用ARM技術(shù)和FPGA技術(shù)不用等待漫長(zhǎng)的搜索過(guò)程，一鍵測(cè)試就出結(jié)果，直觀明了！
先進(jìn)的電纜故障測(cè)距儀
1）DGAC（數(shù)碼增益自動(dòng)控制）系統(tǒng)：可數(shù)字調(diào)節(jié)增益。
2）線路故障自動(dòng)識(shí)別技術(shù)：無(wú)波形，測(cè)試距離快速顯示，更直觀更方便。
3）采用上等（真32位）ARM單片微機(jī)配合現(xiàn)場(chǎng)可編程門(mén)陣列技術(shù)，有利于儀器快速進(jìn)行各種復(fù)雜運(yùn)算、準(zhǔn)確測(cè)試故障距離。
4）采用大屏幕真彩液晶顯示
TL260-1電纜故障測(cè)試儀
性能指標(biāo)
| 測(cè)試范圍 | 0到1000m |
| 測(cè)試誤差 | 1m |
| 波速度范圍 | 100－300m/μs |
| 增益調(diào)節(jié)范圍 | 0－99 |
| 脈沖幅度 | 0－40V可平滑變化的全波單次脈沖 |
| 脈沖寬度 | 50ns-2.5μs自動(dòng)調(diào)節(jié)脈沖寬度 |
| 測(cè)試盲區(qū) | 0m |
| 質(zhì)量 | <500克 |
| 體積 | 160×80×32mm3 |
| 使用時(shí)間 | 可連續(xù)使用8小時(shí)以上 |